粒子圖像測(cè)速儀（PIV）是一種非接觸式激光光學(xué)測(cè)量技術(shù)，用于研究和診斷流動(dòng)，湍流，微流體，噴霧霧化和燃燒過程。PIV系統(tǒng)主要包含時(shí)序控制器、計(jì)算機(jī)及PIV應(yīng)用軟件、圖像記錄儀、光學(xué)照明系統(tǒng)等四大部分，用光學(xué)方法對(duì)氣流、液流場(chǎng)內(nèi)部進(jìn)行流動(dòng)測(cè)量和結(jié)構(gòu)研究，是傳統(tǒng)的流動(dòng)顯示技術(shù)的發(fā)展成果。

高頻PIV是流體力學(xué)研究中發(fā)展方向，時(shí)間分辨率PIV:高頻TR-PIV 受益于CMOS相機(jī)技術(shù)的進(jìn)步，以全分辨率下高達(dá)25600 fps（每秒幀數(shù)）的幀速率獲得高分辨率PIV圖像。

 

粒子圖像測(cè)速和粒徑測(cè)量系統(tǒng)優(yōu)點(diǎn)：

高質(zhì)量的雙脈沖LED光帶來高質(zhì)量的成對(duì)的粒子圖像；

可測(cè)量單個(gè)粒子在低速和高速下的速度；

可測(cè)量各種顆粒和液滴的粒徑；

高性能,可定制解決方案且低成低

雙脈沖LED光源可與其它設(shè)備同步,延遲僅為50ns；

結(jié)構(gòu)緊湊，堅(jiān)固且靈活；

粒子圖像測(cè)速和粒徑測(cè)量系統(tǒng)包括所有需要的部件，完整的文檔和測(cè)試報(bào)告,確保用戶使用放心；

粒子圖像測(cè)速和粒徑測(cè)量系統(tǒng)還能提供LED陰影成像法測(cè)量粒徑,可用于噴霧,液滴,固體顆粒粒徑分析,也適合不規(guī)則固體顆粒粒徑分析。